★符合标准:MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。
★适用范围:适用于各种封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验(CFOL)和间歇寿命试验(IFOL)。
★技术特点:
●适用范围广,可满足多种分立元器件的常温寿命老化。
●具有手动、自动加电模式。
★技术性能
产品型号 |
OPL–64B16C |
OPL–64B08C |
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产品名称 |
分立器件综合老化系统 |
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试验腔体 |
2∽8个,水平风道,强迫风冷,风机转速可调 |
1∽4个,水平风道,强迫风冷,风机转速可调 |
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试验通道 |
16个 |
8个 |
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试验容量 |
64×16=1024位 |
64×16=512位 |
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电源 |
8∽16台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格 |
4∽8台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格 |
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驱动检测板 |
16块 |
8块 |
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温度检测 |
系统检测记录试验腔体的温度,可生成温度变化曲线,并具有超温保护功能。 |
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上位机 |
工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。 |
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基本功能 |
◆试验电流、电压参数上限设定、老化时间设定。 ◆实时监测显示老化参数(I、V、Ta)及老化时间、老化进度。 ◆实时记录保存老化参数(I、V、Ta)。 ◆实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间。 ◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。 |
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电网要求 |
单相AC220V,6KW |
单相AC220V,3KW |
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外形尺寸 |
WхHхD:140х188х126(cm) |
WхHхD:105х188х112(cm) |
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重量 |
约500kg |
约300kg |
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